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Zuverlässige Mikroelektronik durch Fehleranalyse mit Künstlicher Intelligenz

Der Einsatz von Methoden des maschinellen Lernens bietet neuartige Möglichkeiten zur Automatisierung und damit Effizienzsteigerung der Fehlerdiagnostik von Elektronikbauteilen und -systemen. Gemeinsam mit Partnern will das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS in Halle (Saale) dafür den Weg bereiten. Die neuen Methoden sollen helfen, komplexe Fehlermodi erfassen und auswerten zu können. Darüber hinaus … weiterlesen „Zuverlässige Mikroelektronik durch Fehleranalyse mit Künstlicher Intelligenz“

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